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X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測(cè)厚儀可完成鍍層厚度測(cè)量、元素分析、電鍍液分析。最多同時(shí)測(cè)量5層（4層鍍層+底材），每層可同時(shí)分析10種元素。成分測(cè)量可同時(shí)分析25...
顯微鏡下微取樣系統(tǒng)CollectionPro：微小礦物自動(dòng)挑選/采集/集聚系統(tǒng)將耗費(fèi)礦物學(xué)研究者時(shí)間和精力的挑選、采集、集聚作業(yè)變得省力。通過結(jié)合圖像處理系統(tǒng)和...
超微小納米壓痕儀通過減少測(cè)量環(huán)境的干擾實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性，適用于0.5uN-2000mN的廣泛實(shí)驗(yàn)負(fù)載。
顯微鏡LED無(wú)掩膜曝光系統(tǒng) UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光設(shè)備。
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